Taramalı ve geçişli elektron mikroskopları arasındaki fark nedir? MİKROSKOP: Çok minik cisimlerin büyütülmüş görüntüsünü elde etm...
MİKROSKOP:Çok minik cisimlerin büyütülmüş görüntüsünü elde etmekte kullanılan aygıt.Mikroskobun oluşturduğu görüntüye direkt yada bir ekran vasıtasıyla bakılabilir yada bu görüntünün fotoğrafı çekilebilir.Mikroskopla incelenecek cisimler saydam yada saydamsız olabilir.Bileşik mikroskoplarla bakteri boyutlarındaki cisimler incelenebilir,öte taraftan elektron mikroskobuyla minik virüslerin ve büyük moleküllerin görülmesi olanaklıdır.
OPTİK MİKROSKOPUN TARİHÇESİ: İlk mikroskop türü 15. yy'nin ortalarından başlayarak büyüteç olarak kullanılan tek mercekli yalın mikroskoptu.Geliştirdiği tekniklerle oldukça yüksek nitelikli mercekler yapmayı başaran Felemenkli tabiat bilimci ANTONİE VAN LEEUWENHOEK (1632-1723)bunlarla 2-3 mikrometre(0,002-0,003mm)çapındaki bakterileri incelemeyi başardı.O dönemde bu şekilde tek mercekli mikroskoplar renksel sapınç(aberasyon)sorununu artıran bileşik (iki yada daha çok mercekli) mikroskoplara yeğlenmekteydi.İlk bileşik mikroskop 1590-1609 arasındaki dönemde Felemenkte yapılmış oldu;bu tür mikroskobu Hans Jansen,onun oğlu Zacharias yada Hans Lippershey'in bulmuş olduğu kabul edilir.Bulunuşundan kısa bir süre sonrasında İtalyan ve İngiliz optikçilerin yaptıkları bileşik mikroskoplar yaygın olarak kullanılmaya başlandı;fakat bu mikroskoplarda kullanılan merceklerin renksel sapıncın görüntünün renklenmesine ve bozulmasına yol açıyordu.İlk olarak teleskoplarda kullanılan merceklerin renksel sapıncı büyük seviyede ortadan kaldıran renksemez(akromatik)mercekler mikroskopla 18.yynin sonlarında hollandada kullanılmaya başladı.ayrılımı(değişik dalga boylarındaki ışının kırılma indisinin değişik olması sebebiyle değişik renklerin değişik miktarlarda kırılarak birbirinden ayrılması)düşük crown camından yapılmış bir dış bükey(tümsek) mercek ile ayrılımı yüksek flint camından yapılmış bir iç bükey (çukur9merceğinin birleştirilmesiyle oluşturulan renksemez merceklerin yapımına ilişkin bir kuramsal emek harcamayı İngiliz optikçi Joseph Jackson Lister gerçekleştirmiş oldu(1830).mikroskop tasarımında en mühim gelişme alman fizikçi Ernst Abbe(1840-1905)tarafınca gerçekleştirildi.Abbe, yağa daldırılmış objektif tekniğini(objekif ile incelenecek cisim arasına bir yağ damlasının yerleştirilmesi yöntemi)buldu,cisim üstüne ışığın yoğunlaştırılmasının elde eden kondansörü geliştirdi,merceklerin ayırma gücü ve ışık toplama yeteneklerinin belirlenmesin elde eden “sayısal açıklıkâ€terimini ortaya koydu ve yükesk nitelikli,sapınçsız apogromatik mercek sistemini geliştirdi.Abbe ,mikroskopda ayırma yönteminin optik sisteminin sayısal açıklığının büyütülmesi yada daha kısa dalga boylu ışık kullanılmasıyla yükseltilebileceğinide belirlrdi.Görünür ışık kullanılarak birinci yöntemin kuramsal sınırına ulaştıkdan sonrasında, ikinci yolun denemesine geçildi, böylece mor ötesi ışınından yararlanan mikroskoplar geliştirildi,fakat bu tür mikroskopların yapımında mühim teknik sorunlaral karşılaşıldı.1924'de Fransız fizikçi Leouis Victor Broglie ,elektron demetinin bir dalga hareketi gösterdiğini ortaya koydu.Elektron demetinin dalga boyunun ışığın dalga boyuna oranla çok daha kısa olmasından yararlanılarak 1930 lu yıllarda elektron mikroskobu gerçekleştirildi.Elektron mikroskoplarıyla elde edilmiş büyütme gücü 50000in üstündedir.
BİLEŞİK MİKROSKOP: Tek bir yakınsak mercekten oluşan ve yalın mikroskop olarakda adlandırılan büyüteçlerle 20'den yüksek büyütme gücü elde edilmesinde merceğin sapınç özelliklerinden lanan mühim problemler ortaya çıkar.Günlük yaşamda kullanılan büyütme gücü düşük büyüteçlerin yanı sıra duyarlı mekanik aygıt yapımcılarının gözlerine kıstırarak kullandıkları ve saatçi gözlüğü denilen büyüteçler yalın mikroskopların günümüzde yararlanılan örneklerdir.Çift dışbükey (İki yüzü de dışbükey) ya da düzlem-dışbükey(bir yüzü düzlemsel,diğeri yüzü dışbükey)bir yakınsak mercek olan büyüteçte görüntü sanal ve düzdür
Bileşik mikroskopda temel olarak iki yakınsak mercek bulunur.Bunlardan incelenecek cisme bakan merceğe objektif(cisim merceği),göze yakın olanada göz merceği8oküle) denir.incelenecek cisim üstüne ya bir iç bükey ayna ya da bir ışık membaı ile bir yakınsak mercek sisteminden (kondansör)oluşan aydınlatma sistemi aracılığı ile odaklanmış ışık düşürülür.O bjektif ile göz merceği uygun bir mekanizma racılığıyla birbirine gore ileri-geri,yada mesela yerleştirildiği tabla aşağı-yukarı hareket ettirilebilir ve böylece objektif ile cisim arasındaki uzaklık çok duyarlı o halde ayarlanılabilir.
Objektifin odak uzaklığı büyütme gücü düşük mikroskoplarda 25-75mm,orta büyütmeli mikroskoplarda 8-16mm.yüksek büyütmeli mikroskoplarda ise 2-4 mm dir.Çok minik odak uzaklıklar yağa daldırılmış objektiflerde kullanılır.Cisim objektifinin odak noktasının önüne ve odağa çok yakın olarak yerleştirilir, bu durumda objektifin arka odak düzleminin peşinde,cisme gore ters ve büyük bir gerçek görüntü elde edilir.Bu görüntünün cisme oranla büyüklüğü,2 ile 100 arasındadır.Bu görüntü, büyüteç olarak çalışan ve sanal görüntü oluşturan göz merceği tarafınca daha da büyütülür.
ÖZEL MİKROSKOP TüRLERİ: Tereoskopik mikroskoplar birbirine özdeş iki mikroskotan oluşur.Bunların eksenleri içinde ortalama 16 derecelik bir açı vardır, böylece iki eksenin incelenecek cisim üstünde kesişmesi sağlanır, bu tür mikroskoplarla cismin stereoskopik bir görüntüsü elde edilir.Gözlenen cismin düz görüntüsünü elde etmek için prizma kullanılır.tek bir objektifi bulunan ve ışık ışınlarını ikiye ayırarak iki göz merceğini yönelten türden stereoskopik mikroskoplarda yaygın olarak kullanılır.
Ultra mikroskop,koloit(asıltı) parçacıklarını incelemek amacıyla 19032te geliştirilmiştir.Adi mikroskopla gözlenemeyecek kadar minik olan bu parçacıklar kuvvetli bir ışık membaı vasıtasıyla mikroskop eksenine dik doğrultuda ışıkla aydınlatır.parçacıkların saçılıma uğrattığı ışık karanlık zemin önünde oluşan parıltılar biçiminde gözlenir.Bu yöntemde 5-10 milimikron çapında parçacıkların oluşturduğu parıltıların gözlenmesi olanaklıdır.
ELEKTRON MİKROSKOPU: Fransız fizikçi Louis- Victor Broglie1924'te ,o döneme değin maddesel parçacık olarak kabul edilen elektronların ve diğeri parçacıkların bununla beraber dalga özekliği gösterdiğini ortaya koydu .elektronların dalga yapısı 1927'de deneysel olrak saptandı.parçacıkların bir dalga olarak haiz oldukları dalga boyunu veren ve broglie'nin ortaya koyduğu eşitliğe gore, mesela 60000 voltla hızlandırılmış elektronların etkin dalga boyu 0,05angströmdür(bir angström=10 m9,bir başka deyişle yeşil ışığın dalga boyunun 1000002de 1 ine eşittir.bu yüzden mikroskopta ışık yerine bu şekilde bir dalganın kullanılması durumunda ayırma gücünün çok büyük seviyede artması beklenebilir.elektrostatik ve magnetik alanların elektronlardan yada başka yüklü parçacıklrdan oluşan demetleri saptırabildiği ve odaklayabildiğini 1926'da kanıtlanması üstüne ayrı bir fizik dalı olarak elektron optiği
ortaya çıktı.ilk elektron mikroskopu 1933'te gerçekleştirildi;optik mikroskoplarla elde edilbilen ayırma gücü elektron mikroskopu kullanılarak birkaç yıl içinde aşıldı.İlk ticari elektron mikroskopunun yapımına 1935'te ingilterede başlandı.Bunu Almanya ve ABD izledi.Günmüzde elektron mikroskoplarıyla 3 angströmden minik uzunluklar seçilebilmekte ,böylece büyük moleküllerin direkt gözlenmesi.olanaklı olmaktadır.
Optik Mikroskoba Bakılırsa Farklar: Elektronlar hava içinde hava molekülleriyle çarpışmalarından dolayı yol alamadıklarından,elektron demetinin geçmiş olduğu yolda havanın boşaltılmış olması gerekir.Bundan dolayı canlı örnekler elektron mikroskopuyla incelenemez..Optik mikroskopta merceklerin odak uzaklıkları sabittir ve odaklama için mesela objektife uzaklığı değiştirilir.Elektron mikroskopunda kullanılan elektrostatik yada magnetik alanlı merceklerin odak uzaklıkları değişkendir ve kolaylıkla ayarlanılabilir;bu yüzden mercekler arasındaki uzaklık ve mesela objektife uzaklığı durağan(durgun) tutulur.optik teleskoplarda çoğu zaman sana görüntü elde edilir;elektron mikroskopunda ise görüntü gerçektir,bu yüzden flüorışıl bir ekran üstünde oluşturularak direkt görülür bir duruma getirilebilir yada film üstünde oluşturularak fotoğrafı elde edilebilir.
GEÇİŞLİ ELEKTRON MİKROSKOPU: Elektron demetinin,incelenen mesela içinden geçerek görüntü oluşturduğu geşçişli elektron mikroskoplarında başlıca 3 bölüm bulunur.
1)Elektron demetini üreten ve örneğe odaklayan bölüm
2)Görüntüyü oluşturan bölüm
3)Görüntü seyretme kısmı
Elektron demetini oluşturan bölüm elektron tabancası
olarak adlandırılır.Elektronlar içinden akım geçirilerek ıslatılmış tungsten telden bir katottan salınır.katota gore artı potansiyelde tutulan disk biçiminde bir elektron olan anota doğu hızlanan elektronlar anottaki delikten bir demet biçiminde geçerler.Bu elektron demeti bir yada iki elektromagnetik mercekten oluşan kondansör(toplayıcı)tarafınca örnek üstüne odaklanır.bir bakır ızgara üstüne yerleşmiş olan örnekten geçen elektron demeti 1-5mm odak uzaklığı objektif merceği vasıtasıyla mesela 20-200 kez büyütülmüş gerçek görüntüsünü oluşturur.Bu örüntü projektör merceği denilenbir yada iki mercek tarafınca dahada büyültülürSonuç olarak 1000-50000 kez büyütülmüş bir elektron görüntüsü elde edilir.Bu görüntüyü insan gözünün algılayabileceği biçime dönüştürmek amacıyla flüorışıl bir ekran kullanılır.Elektron görüntüsü direkt film üzerinedüşürülerek görüntünün fotoğrafıda elde edilebilir.Bu durumda fotoğrafik gelişme yöntemiyle görüntünün dahada büyütülmesi oanaklıdır.Flüorışıl ekranda oluşan görüntü de ,bir optik mikroskopla ortalama 10 kat büyütülerekgözlenir. Mikroskopun elektron tabancasından ekran yada filme kadar tüm bölümlerinin elektronlarının serbestçe yol almalarını sağlamak suretiyle ,havası boşaltılmış bir sistem içinde bulundurulması gerekir.
YüKSEK GERİLİMLİ MİKROSKOPLAR: lışılagelmiş elektron mikroskoplarında elektronları hızlandıran gerilimin kıymeti 1000 kilovolt civarlarındadır.Buna karşılık,1200000 voltluk gerilimler kullanılan mikroskoplar da yapılmştır.Yüksek gerilimler kullanmanın üstünlüklerini şöyleki sıralanabilir.
1)Hızlandırıcı gerilim yükseldikçe elektronların hızı büyür,dalga boyu küçülür,sonuçta mikroskopun ayırma gücü yükselir.
2)Süratli elektronlar kalınca örneklerden daha kolay geçer.
3)enerji kayıplarından lanan renksel sapınç azalır
4)Örnek daha azca ısınır ısınmanın örnekte yol açmış olduğu etkisinde bırakır azalır
5)Elektron kırınım desenlerinin ayırma gücü yükselir.Bunlara krşılık ,yüksek gerilimlerin durağan(durgun) ve kesin bir halde elde edilmesinde zorluklarla karşılaşılır.yüksek süratli elektronların yolu üstündeki cisimlere çarpmasıyla ortaya çıkan x ışınlarının mikroskopu kullananlara zarar vermemesi için lüzumlu önlemlerin alınması gerekir.
TARAYICI ELEKTRON MİKROSKOPU: Cisimlerin yüzeyini incelemek suretiyle geliştirilen tarayıcı elektron mikroskobunda uygun bir saptırıcı düzenek vasıtasıyla bir elektron demetinin incelenecek yüzeyi devamlı devamlı olarak taraması sağlanır.Yüzeye çarpan elektronlar yüzeyden ikincil elektronların fırlamasına neden olur.Bu ikincil elektronlar bir karpışım kristaline(elektronların çarpışmasıyla kısa süreli ani ışık parlamaları oluşturan kristal)gönderilir.Kristalde ortaya çıkan parlamalar bir fotoçoğaltıcı lamba
vasıtasıyla yüzbinlerce kez yükseltilerek elektrik sinyaline dönüştürülür.Bu elektrik sinyali bir katot ışınlı lambadaki(tv görüntü tüpü)görüntünün parlaklığını denetler.Katot ışınlı lambanın ekranını tarayan demetin mikroskopla incelenecek yüzeyi tarayan demetle eşzamanlı tarama yapması sağlanır.Böylece lamba ekranındaki bir noktanın parlaklığı, mesela yüzeyinde bu noktaya karşılık gelen noktadan salınan ikincil elektronların sayısıyla orantılı olur.Netice olarak ekranda incelenen yüzeyin yapısını gösteren bir görüntü elde edilir
ALAN ETKİLİ MİKROSKOP: Alan etkisiyle salım
olgusundan yararlanarak çalışan bu aygıt, temel olarak bir katot ışınlı lamba içine yerleştirilmiştir,çok ince bir telden oluşur.Kuvvetli bir elektrik alanının etkisiyle telin ucundan elektronlar fırlar;bu elektronlar lambanın flüorışıl ekranına düşerek ekranda ince telin ucunun görüntüsünü oluşturur.Bu şekilde bir aygıtta büyütme,flüorışıl ekranın eğrilik yarıçapı ile telin ucunun yarıçapı arasındaki orana eşittir.Bu yöntemle yalnız yüksek sıcaklıklara dayanıklı tungsten,platin,molibden şeklinde metaller incelenebilir,bu sebeple telin ucunda ortaya çıkan yüksek akım yoğunluğu yüzünden büyük akım açığa çıkar
Sebep: İç başlık
Isı ve ısı arasındaki fark nedir?
Grup ve kurum arasındaki fark nedir?
Bilgi ve bilgelik arasındaki fark nedir?
Bu ileti 'en iyi yanıt' seçilmiştir.
OPTİK MİKROSKOPUN TARİHÇESİ: İlk mikroskop türü 15. yy'nin ortalarından başlayarak büyüteç olarak kullanılan tek mercekli yalın mikroskoptu.Geliştirdiği tekniklerle oldukça yüksek nitelikli mercekler yapmayı başaran Felemenkli tabiat bilimci ANTONİE VAN LEEUWENHOEK (1632-1723)bunlarla 2-3 mikrometre(0,002-0,003mm)çapındaki bakterileri incelemeyi başardı.O dönemde bu şekilde tek mercekli mikroskoplar renksel sapınç(aberasyon)sorununu artıran bileşik (iki yada daha çok mercekli) mikroskoplara yeğlenmekteydi.İlk bileşik mikroskop 1590-1609 arasındaki dönemde Felemenkte yapılmış oldu;bu tür mikroskobu Hans Jansen,onun oğlu Zacharias yada Hans Lippershey'in bulmuş olduğu kabul edilir.Bulunuşundan kısa bir süre sonrasında İtalyan ve İngiliz optikçilerin yaptıkları bileşik mikroskoplar yaygın olarak kullanılmaya başlandı;fakat bu mikroskoplarda kullanılan merceklerin renksel sapıncın görüntünün renklenmesine ve bozulmasına yol açıyordu.İlk olarak teleskoplarda kullanılan merceklerin renksel sapıncı büyük seviyede ortadan kaldıran renksemez(akromatik)mercekler mikroskopla 18.yynin sonlarında hollandada kullanılmaya başladı.ayrılımı(değişik dalga boylarındaki ışının kırılma indisinin değişik olması sebebiyle değişik renklerin değişik miktarlarda kırılarak birbirinden ayrılması)düşük crown camından yapılmış bir dış bükey(tümsek) mercek ile ayrılımı yüksek flint camından yapılmış bir iç bükey (çukur9merceğinin birleştirilmesiyle oluşturulan renksemez merceklerin yapımına ilişkin bir kuramsal emek harcamayı İngiliz optikçi Joseph Jackson Lister gerçekleştirmiş oldu(1830).mikroskop tasarımında en mühim gelişme alman fizikçi Ernst Abbe(1840-1905)tarafınca gerçekleştirildi.Abbe, yağa daldırılmış objektif tekniğini(objekif ile incelenecek cisim arasına bir yağ damlasının yerleştirilmesi yöntemi)buldu,cisim üstüne ışığın yoğunlaştırılmasının elde eden kondansörü geliştirdi,merceklerin ayırma gücü ve ışık toplama yeteneklerinin belirlenmesin elde eden “sayısal açıklıkâ€terimini ortaya koydu ve yükesk nitelikli,sapınçsız apogromatik mercek sistemini geliştirdi.Abbe ,mikroskopda ayırma yönteminin optik sisteminin sayısal açıklığının büyütülmesi yada daha kısa dalga boylu ışık kullanılmasıyla yükseltilebileceğinide belirlrdi.Görünür ışık kullanılarak birinci yöntemin kuramsal sınırına ulaştıkdan sonrasında, ikinci yolun denemesine geçildi, böylece mor ötesi ışınından yararlanan mikroskoplar geliştirildi,fakat bu tür mikroskopların yapımında mühim teknik sorunlaral karşılaşıldı.1924'de Fransız fizikçi Leouis Victor Broglie ,elektron demetinin bir dalga hareketi gösterdiğini ortaya koydu.Elektron demetinin dalga boyunun ışığın dalga boyuna oranla çok daha kısa olmasından yararlanılarak 1930 lu yıllarda elektron mikroskobu gerçekleştirildi.Elektron mikroskoplarıyla elde edilmiş büyütme gücü 50000in üstündedir.
BİLEŞİK MİKROSKOP: Tek bir yakınsak mercekten oluşan ve yalın mikroskop olarakda adlandırılan büyüteçlerle 20'den yüksek büyütme gücü elde edilmesinde merceğin sapınç özelliklerinden lanan mühim problemler ortaya çıkar.Günlük yaşamda kullanılan büyütme gücü düşük büyüteçlerin yanı sıra duyarlı mekanik aygıt yapımcılarının gözlerine kıstırarak kullandıkları ve saatçi gözlüğü denilen büyüteçler yalın mikroskopların günümüzde yararlanılan örneklerdir.Çift dışbükey (İki yüzü de dışbükey) ya da düzlem-dışbükey(bir yüzü düzlemsel,diğeri yüzü dışbükey)bir yakınsak mercek olan büyüteçte görüntü sanal ve düzdür
Bileşik mikroskopda temel olarak iki yakınsak mercek bulunur.Bunlardan incelenecek cisme bakan merceğe objektif(cisim merceği),göze yakın olanada göz merceği8oküle) denir.incelenecek cisim üstüne ya bir iç bükey ayna ya da bir ışık membaı ile bir yakınsak mercek sisteminden (kondansör)oluşan aydınlatma sistemi aracılığı ile odaklanmış ışık düşürülür.O bjektif ile göz merceği uygun bir mekanizma racılığıyla birbirine gore ileri-geri,yada mesela yerleştirildiği tabla aşağı-yukarı hareket ettirilebilir ve böylece objektif ile cisim arasındaki uzaklık çok duyarlı o halde ayarlanılabilir.
Objektifin odak uzaklığı büyütme gücü düşük mikroskoplarda 25-75mm,orta büyütmeli mikroskoplarda 8-16mm.yüksek büyütmeli mikroskoplarda ise 2-4 mm dir.Çok minik odak uzaklıklar yağa daldırılmış objektiflerde kullanılır.Cisim objektifinin odak noktasının önüne ve odağa çok yakın olarak yerleştirilir, bu durumda objektifin arka odak düzleminin peşinde,cisme gore ters ve büyük bir gerçek görüntü elde edilir.Bu görüntünün cisme oranla büyüklüğü,2 ile 100 arasındadır.Bu görüntü, büyüteç olarak çalışan ve sanal görüntü oluşturan göz merceği tarafınca daha da büyütülür.
ÖZEL MİKROSKOP TüRLERİ: Tereoskopik mikroskoplar birbirine özdeş iki mikroskotan oluşur.Bunların eksenleri içinde ortalama 16 derecelik bir açı vardır, böylece iki eksenin incelenecek cisim üstünde kesişmesi sağlanır, bu tür mikroskoplarla cismin stereoskopik bir görüntüsü elde edilir.Gözlenen cismin düz görüntüsünü elde etmek için prizma kullanılır.tek bir objektifi bulunan ve ışık ışınlarını ikiye ayırarak iki göz merceğini yönelten türden stereoskopik mikroskoplarda yaygın olarak kullanılır.
Ultra mikroskop,koloit(asıltı) parçacıklarını incelemek amacıyla 19032te geliştirilmiştir.Adi mikroskopla gözlenemeyecek kadar minik olan bu parçacıklar kuvvetli bir ışık membaı vasıtasıyla mikroskop eksenine dik doğrultuda ışıkla aydınlatır.parçacıkların saçılıma uğrattığı ışık karanlık zemin önünde oluşan parıltılar biçiminde gözlenir.Bu yöntemde 5-10 milimikron çapında parçacıkların oluşturduğu parıltıların gözlenmesi olanaklıdır.
ELEKTRON MİKROSKOPU: Fransız fizikçi Louis- Victor Broglie1924'te ,o döneme değin maddesel parçacık olarak kabul edilen elektronların ve diğeri parçacıkların bununla beraber dalga özekliği gösterdiğini ortaya koydu .elektronların dalga yapısı 1927'de deneysel olrak saptandı.parçacıkların bir dalga olarak haiz oldukları dalga boyunu veren ve broglie'nin ortaya koyduğu eşitliğe gore, mesela 60000 voltla hızlandırılmış elektronların etkin dalga boyu 0,05angströmdür(bir angström=10 m9,bir başka deyişle yeşil ışığın dalga boyunun 1000002de 1 ine eşittir.bu yüzden mikroskopta ışık yerine bu şekilde bir dalganın kullanılması durumunda ayırma gücünün çok büyük seviyede artması beklenebilir.elektrostatik ve magnetik alanların elektronlardan yada başka yüklü parçacıklrdan oluşan demetleri saptırabildiği ve odaklayabildiğini 1926'da kanıtlanması üstüne ayrı bir fizik dalı olarak elektron optiği
ortaya çıktı.ilk elektron mikroskopu 1933'te gerçekleştirildi;optik mikroskoplarla elde edilbilen ayırma gücü elektron mikroskopu kullanılarak birkaç yıl içinde aşıldı.İlk ticari elektron mikroskopunun yapımına 1935'te ingilterede başlandı.Bunu Almanya ve ABD izledi.Günmüzde elektron mikroskoplarıyla 3 angströmden minik uzunluklar seçilebilmekte ,böylece büyük moleküllerin direkt gözlenmesi.olanaklı olmaktadır.
Optik Mikroskoba Bakılırsa Farklar: Elektronlar hava içinde hava molekülleriyle çarpışmalarından dolayı yol alamadıklarından,elektron demetinin geçmiş olduğu yolda havanın boşaltılmış olması gerekir.Bundan dolayı canlı örnekler elektron mikroskopuyla incelenemez..Optik mikroskopta merceklerin odak uzaklıkları sabittir ve odaklama için mesela objektife uzaklığı değiştirilir.Elektron mikroskopunda kullanılan elektrostatik yada magnetik alanlı merceklerin odak uzaklıkları değişkendir ve kolaylıkla ayarlanılabilir;bu yüzden mercekler arasındaki uzaklık ve mesela objektife uzaklığı durağan(durgun) tutulur.optik teleskoplarda çoğu zaman sana görüntü elde edilir;elektron mikroskopunda ise görüntü gerçektir,bu yüzden flüorışıl bir ekran üstünde oluşturularak direkt görülür bir duruma getirilebilir yada film üstünde oluşturularak fotoğrafı elde edilebilir.
GEÇİŞLİ ELEKTRON MİKROSKOPU: Elektron demetinin,incelenen mesela içinden geçerek görüntü oluşturduğu geşçişli elektron mikroskoplarında başlıca 3 bölüm bulunur.
1)Elektron demetini üreten ve örneğe odaklayan bölüm
2)Görüntüyü oluşturan bölüm
3)Görüntü seyretme kısmı
Elektron demetini oluşturan bölüm elektron tabancası
olarak adlandırılır.Elektronlar içinden akım geçirilerek ıslatılmış tungsten telden bir katottan salınır.katota gore artı potansiyelde tutulan disk biçiminde bir elektron olan anota doğu hızlanan elektronlar anottaki delikten bir demet biçiminde geçerler.Bu elektron demeti bir yada iki elektromagnetik mercekten oluşan kondansör(toplayıcı)tarafınca örnek üstüne odaklanır.bir bakır ızgara üstüne yerleşmiş olan örnekten geçen elektron demeti 1-5mm odak uzaklığı objektif merceği vasıtasıyla mesela 20-200 kez büyütülmüş gerçek görüntüsünü oluşturur.Bu örüntü projektör merceği denilenbir yada iki mercek tarafınca dahada büyültülürSonuç olarak 1000-50000 kez büyütülmüş bir elektron görüntüsü elde edilir.Bu görüntüyü insan gözünün algılayabileceği biçime dönüştürmek amacıyla flüorışıl bir ekran kullanılır.Elektron görüntüsü direkt film üzerinedüşürülerek görüntünün fotoğrafıda elde edilebilir.Bu durumda fotoğrafik gelişme yöntemiyle görüntünün dahada büyütülmesi oanaklıdır.Flüorışıl ekranda oluşan görüntü de ,bir optik mikroskopla ortalama 10 kat büyütülerekgözlenir. Mikroskopun elektron tabancasından ekran yada filme kadar tüm bölümlerinin elektronlarının serbestçe yol almalarını sağlamak suretiyle ,havası boşaltılmış bir sistem içinde bulundurulması gerekir.
YüKSEK GERİLİMLİ MİKROSKOPLAR: lışılagelmiş elektron mikroskoplarında elektronları hızlandıran gerilimin kıymeti 1000 kilovolt civarlarındadır.Buna karşılık,1200000 voltluk gerilimler kullanılan mikroskoplar da yapılmştır.Yüksek gerilimler kullanmanın üstünlüklerini şöyleki sıralanabilir.
1)Hızlandırıcı gerilim yükseldikçe elektronların hızı büyür,dalga boyu küçülür,sonuçta mikroskopun ayırma gücü yükselir.
2)Süratli elektronlar kalınca örneklerden daha kolay geçer.
3)enerji kayıplarından lanan renksel sapınç azalır
4)Örnek daha azca ısınır ısınmanın örnekte yol açmış olduğu etkisinde bırakır azalır
5)Elektron kırınım desenlerinin ayırma gücü yükselir.Bunlara krşılık ,yüksek gerilimlerin durağan(durgun) ve kesin bir halde elde edilmesinde zorluklarla karşılaşılır.yüksek süratli elektronların yolu üstündeki cisimlere çarpmasıyla ortaya çıkan x ışınlarının mikroskopu kullananlara zarar vermemesi için lüzumlu önlemlerin alınması gerekir.
TARAYICI ELEKTRON MİKROSKOPU: Cisimlerin yüzeyini incelemek suretiyle geliştirilen tarayıcı elektron mikroskobunda uygun bir saptırıcı düzenek vasıtasıyla bir elektron demetinin incelenecek yüzeyi devamlı devamlı olarak taraması sağlanır.Yüzeye çarpan elektronlar yüzeyden ikincil elektronların fırlamasına neden olur.Bu ikincil elektronlar bir karpışım kristaline(elektronların çarpışmasıyla kısa süreli ani ışık parlamaları oluşturan kristal)gönderilir.Kristalde ortaya çıkan parlamalar bir fotoçoğaltıcı lamba
vasıtasıyla yüzbinlerce kez yükseltilerek elektrik sinyaline dönüştürülür.Bu elektrik sinyali bir katot ışınlı lambadaki(tv görüntü tüpü)görüntünün parlaklığını denetler.Katot ışınlı lambanın ekranını tarayan demetin mikroskopla incelenecek yüzeyi tarayan demetle eşzamanlı tarama yapması sağlanır.Böylece lamba ekranındaki bir noktanın parlaklığı, mesela yüzeyinde bu noktaya karşılık gelen noktadan salınan ikincil elektronların sayısıyla orantılı olur.Netice olarak ekranda incelenen yüzeyin yapısını gösteren bir görüntü elde edilir
ALAN ETKİLİ MİKROSKOP: Alan etkisiyle salım
olgusundan yararlanarak çalışan bu aygıt, temel olarak bir katot ışınlı lamba içine yerleştirilmiştir,çok ince bir telden oluşur.Kuvvetli bir elektrik alanının etkisiyle telin ucundan elektronlar fırlar;bu elektronlar lambanın flüorışıl ekranına düşerek ekranda ince telin ucunun görüntüsünü oluşturur.Bu şekilde bir aygıtta büyütme,flüorışıl ekranın eğrilik yarıçapı ile telin ucunun yarıçapı arasındaki orana eşittir.Bu yöntemle yalnız yüksek sıcaklıklara dayanıklı tungsten,platin,molibden şeklinde metaller incelenebilir,bu sebeple telin ucunda ortaya çıkan yüksek akım yoğunluğu yüzünden büyük akım açığa çıkar
Sebep: Düzenlendi.
YORUMLAR